4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
參數(shù)查看，快速清晰。
推進大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。4200A-SCS 參數(shù)分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50％，從而實現(xiàn)****的測量和分析能力。此外，嵌入式測量專業(yè)知識提供****的測試指導，并讓您對*終結果充滿信息。
特點
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用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的**測量硬件
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立即使用 Clarius 軟件中所含的數(shù)百種用戶可修改應用程序測試開始測試
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自動實時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)
4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
準確的 C-V 表征
使用吉時利*新的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數(shù)飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業(yè)**的 CVU 架構中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。
特點
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同類產品一款能夠驅動1 V AC 電源電壓的 CV 表
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1 kHz 頻率，分辨率從1 kHz 到 10 MHz
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測量電容、電導和導納
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使用 4200A-CVIV 多路開關*多可測量四個通道
使用 4215-CVU 進行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量
4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
測量、 切換、 重復。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現(xiàn)意想不到的結果時輕松排除故障。
特點
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無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
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用戶可配置低電流功能
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個性化輸出通道名稱
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查看實時測試狀態(tài)
4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
穩(wěn)定的低電流測量，適用于 I-V 檢定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統(tǒng)實現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現(xiàn)場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley 可確保您獲得準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。
特點
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不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
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進行 飛安測量
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多達 9 個 SMU 通道
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針對長電纜或大卡盤進行了優(yōu)化
4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案
4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
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“點擊”測試定序
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“手動”探測器模式測試探測器功能
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假探測器模式無需移除命令即可實現(xiàn)調試
4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
穩(wěn)定的低電流測量，適用于 I-V 檢定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統(tǒng)實現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現(xiàn)場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley 可確保您獲得準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。
特點
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不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
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進行 飛安測量
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多達 9 個 SMU 通道
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針對長電纜或大卡盤進行了優(yōu)化
4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
降低成本并保護您的投資
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產品技術資料
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型號
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描述
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價格
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查看產品技術資料
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4200A-SCS-PKA
高分辨率 IV 套件
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4200A-SCS：參數(shù)分析儀主機
4201-SMU：兩個用于高容量設置的中間功率 SMU
4200-PA：一個預放大器
8101-PIV：一個帶有采樣裝置的測試夾具
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索取報價
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查看產品技術資料
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4200A-SCS-PKB
高分辨率 IV 和 CV 套件
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4200A-SCS：參數(shù)分析儀主機
4201-SMU：兩個用于高容量設置的中間功率 SMU
4200-PA：一個預放大器
4215-CVU：一個高分辨率多頻 C-V 單元
8101-PIV：一個帶有采樣裝置的測試夾具
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索取報價
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查看產品技術資料
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4200A-SCS-PKC
高功率 IV 和 CV 套件
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4200A-SCS：參數(shù)分析儀主機
4201-SMU：兩個用于高容量設置的中間功率 SMU
4211-SMU：兩個用于高容量設置的高功率 SMU
4200-PA：兩個預放大器
4215-CVU：一個高分辨率多頻 C-V 單元
8101-PIV：一個帶有采樣裝置的測試夾具
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索取報價
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4200-BTI-A
超快 NBTI/PBTI 套件
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用于使用**硅 CMOS 技術進行的復雜 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 套件包括：
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1 個 4225-PMU 超快 I-V 模塊
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2 個 4225-RPM 遠程預放大器/開關模塊
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自動化檢定套件 (ACS) 軟件
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超快 BTI 測試項目模塊
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布線
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索取報價
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4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
生物傳感器檢定
生物傳感器或 bioFET 將對分析物的生物響應轉換為電信號。集成到 4200A-SCS 中的 Clarius 軟件包括一個用于測試 bioFET 的項目。以此為起點檢定生物傳感器的傳輸和輸出特性，并從這里展開工作。
4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
使用 4215-CVU 模塊測量亞毫微微法拉電容。通過驅動 1 V AC，在測量 1 fF 電容器時，4215-CVU 的噪聲水平可低至 6 attofarad。這只是 Clarius 軟件隨附的用于測量電容和提取重要參數(shù)的數(shù)十種應用程序之一。
使用 4215-CVU 進行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量
進行*佳電容和交流阻抗測量
特點
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內置飛法測量功能
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從 1kHz 到 10MHz 的 10,000 個頻率步進
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使用用戶庫定制任何設備的任何測試
4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
半導體和 NVM 可靠性
通過**脈沖 I-V 檢定在測試中利用新技術。 4200A-SCS 為*新 NVRAM 技術提供支持和即用型測試，從浮動門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM，不一而足。 電流和電壓雙源和測量功能同時支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。
評估 MOSFET 設備的熱載波感應劣化
用于非易失內存測試的單納秒脈沖解決方案
非易失內存技術脈沖 I-V 檢定
4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
提供適合高阻抗應用的 C-V 測量功能
采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術分析高電阻樣本的電容。 該技術可通過僅使用源測量單元 (SMU) 儀器實現(xiàn)應用，同時可與 4210-CVU 結合使用，執(zhí)行更高頻率測量。
4200A-SCS 參數(shù)分析儀可在高阻抗設備上執(zhí)行極低頻電容-電壓測量
簡化 MOSFET/MOSCAP 設備檢定的提示和技術
特點
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.01 ~ 10 Hz 頻率范圍，1 pF ~ 10 nF 靈敏度
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3? 位典型分辨率，*小典型值 10 fF
4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
使用長電纜或電容式夾具時進行測試
當測試需要非常長的電纜或具有較高電容的夾具時，請使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測試站、探測器、開關矩陣或任何其他大型或復雜的測試儀?，F(xiàn)場可安裝版本使您無需將設備返回服務中心即可增加容量。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通過高測試連接電容進行穩(wěn)定的低電流測量
