TAS7500系列太赫茲光譜成像系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: TAS7500系列太赫茲光譜成像系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): TAS7500SL
產(chǎn)品展商: ADVANTEST
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
TAS7500系列
TAS7500系列外形緊湊多用途的太赫茲光譜成像系統(tǒng)，它利用電磁波譜太赫茲區(qū)域（0.1-10 THz）獨(dú)特的特性，此系統(tǒng)無(wú)需特設(shè)的分析環(huán)境即可進(jìn)行**、化學(xué)品和通信材料等的無(wú)損檢測(cè)。采集速度快和易操作是愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試太赫茲分析系統(tǒng)的特點(diǎn)。除了工業(yè)應(yīng)用，TAS7500系列也是相關(guān)研究領(lǐng)域的*佳選擇。利用愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試的高精度檢測(cè)技術(shù)，可獲得**的采樣性能。
TAS7500系列太赫茲光譜成像系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
應(yīng)用于太赫茲無(wú)線通信材料領(lǐng)域研究的低頻頻域太赫茲光譜系統(tǒng)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
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適用于太赫茲無(wú)線通信材料開(kāi)發(fā)研究領(lǐng)域的低頻帶規(guī)格（0.03～2THz）
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無(wú)需光路調(diào)整，模塊切換方便。
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利用附帶的干燥空氣過(guò)濾單元可以不受凝結(jié)水珠的影響下進(jìn)行測(cè)試
產(chǎn)品規(guī)格
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測(cè)量模式（可選）
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透射/反射
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目標(biāo)材料
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介電材料、化學(xué)物質(zhì)、試劑等
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分析/顯示功能
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光譜顯示（透過(guò)率、反射率、相位變化、吸收率、吸收系數(shù)、復(fù)折射率、復(fù)介電常數(shù)），時(shí)間響應(yīng)顯示（電場(chǎng)強(qiáng)度），定量分析（可選）
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頻譜范圍
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0.03-2THz（at 23°C ±5°C）
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掃描速率
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<8ms / 掃描
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TAS7500系列
TAS7500系列外形緊湊多用途的太赫茲光譜成像系統(tǒng)，它利用電磁波譜太赫茲區(qū)域（0.1-10 THz）獨(dú)特的特性，此系統(tǒng)無(wú)需特設(shè)的分析環(huán)境即可進(jìn)行**、化學(xué)品和通信材料等的無(wú)損檢測(cè)。采集速度快和易操作是愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試太赫茲分析系統(tǒng)的特點(diǎn)。除了工業(yè)應(yīng)用，TAS7500系列也是相關(guān)研究領(lǐng)域的*佳選擇。利用愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試的高精度檢測(cè)技術(shù)，可獲得**的采樣性能。
TAS7500系列主要特性
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業(yè)界*佳的掃描功能*
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外形緊湊的臺(tái)式機(jī)
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寬帶測(cè)量能力覆蓋各種光譜分析應(yīng)用
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測(cè)試模塊支持液體、固體和粉末形式的樣品
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樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的非侵入性成像分析（厚度和密度）
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外部空氣干燥單元消除水分干擾
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光譜成像：覆蓋多種應(yīng)用
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樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的非侵入性成像分析
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光譜成像：覆蓋多種應(yīng)用
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成像分析：樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)非侵入式測(cè)量
* TAS7500SP/SU/SL: 8ms/掃描, TAS7500IM: <15 分鐘 (32 x 32 點(diǎn), 積分32次)
溫控模塊選項(xiàng)（適用于透射模塊的追加選項(xiàng)）
追加這個(gè)模塊后，可以對(duì)較高/較低溫度的樣品進(jìn)行測(cè)試。提供兩種型號(hào)，一個(gè)是工作范圍為-10至+80°C（TAS1020）的模塊，另一種是從室溫至+300°C（TAS1030）的模塊。干燥空氣過(guò)濾功能可防止在低溫條件下凝結(jié)水珠的問(wèn)題
產(chǎn)品規(guī)格
TAS7500 Series : Product Specification (498KB)
