VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): 3380
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
50/100 MHz 測(cè)試頻率
1024 I數(shù)字信道管腳 (*高1280數(shù)字信道管腳)
高達(dá)1024 sites 并行測(cè)試
32/64/128 pattern 內(nèi)存
16M capture memory per pin
多樣化 VI 電源
彈性化硬件架構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel trim/match 功能
時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
高速時(shí)序測(cè)試單位 (HSTMU)
支持STDF工具
測(cè)試program/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
AD/DA功能板卡 (可選配)
SCAN向量存儲(chǔ)深度(*高 2G bits/chain) (可選配)
ALPG 測(cè)試功能可供內(nèi)存IC用 (可選配)
CRAFT C/C++ 程序語言
軟件接口與
VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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50/100 MHz 測(cè)試頻率
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1024 I數(shù)字信道管腳 (*高1280數(shù)字信道管腳)
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高達(dá)1024 sites 并行測(cè)試
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32/64/128 pattern 內(nèi)存
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16M capture memory per pin
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多樣化 VI 電源
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彈性化硬件架構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
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Real parallel trim/match 功能
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時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
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高速時(shí)序測(cè)試單位 (HSTMU)
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支持STDF工具
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測(cè)試program/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
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AD/DA功能板卡 (可選配)
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SCAN向量存儲(chǔ)深度(*高 2G bits/chain) (可選配)
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ALPG 測(cè)試功能可供內(nèi)存IC用 (可選配)
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CRAFT C/C++ 程序語言
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軟件接口與3380P/3360P相同
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人性化的Windows 7操作系統(tǒng)
為因應(yīng)未來IC芯片腳位數(shù)更多、速率更高、整合功能更為復(fù)雜的發(fā)展驅(qū)勢(shì)，Chroma以此發(fā)展方向提供新一代3380系列VLSI測(cè)試機(jī)臺(tái)，包含 3380D、380P、3380機(jī)型，根據(jù)不同的腳位數(shù)或同測(cè)能力(Parallel Test)，提供需求與成本效益兼具的測(cè)試解決方案。
此系列機(jī)型之一的VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380，具有*高1280 I/O pins、256 VI、彈性化架構(gòu)、以及完整選項(xiàng)功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色；可符合高同測(cè)的市場(chǎng)驅(qū)勢(shì)，具備1024 I/O pin可同測(cè)1024個(gè)芯片的能力。除了獨(dú)特的4-wire高密度IC電源(VI source)外，彈性化可調(diào)整的架構(gòu)還可提供Mini&Macro LED驅(qū)動(dòng)IC、CMOS影像傳感器(CIS)、及3D影像測(cè)試等解決方案；以利涵蓋更廣泛的IC測(cè)試功能與應(yīng)用范圍。
3380 VLSI測(cè)試系統(tǒng)可無縫接軌3380D(256pins)與3380P(512pins)，以因應(yīng)更高的產(chǎn)能需求。3380系列VLSI測(cè)試系統(tǒng)無論在裝機(jī)、穩(wěn)定度、友善使用接口、及成本效益上，長期以來皆已于中國市場(chǎng)獲得廣泛印證。
應(yīng)用范圍
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微控制器單元 (MCU)
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ADC/DAC混和訊號(hào)IC
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邏輯IC
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ADDA
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ALPG
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Smart Card
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Mini&Macro LED驅(qū)動(dòng)IC
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CMOS影像傳感器 (CIS)
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電源IC (Class D IC)
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消費(fèi)性IC
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LED驅(qū)動(dòng)IC
