VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): Model 3360-P
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Model 3360-P VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
主要特色：
- 25/50 MHz 測(cè)試頻率
- 25/50 Mbps data rate
- 256 logic I/O pins
- 8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購(gòu)) Pattern 記憶體
- 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD)
- 平行測(cè)試可達(dá) 32 devices
- Real parallel Trim/Match 功能
- 時(shí)序頻率測(cè)試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)
- 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10, J750, ITS9K, TS670 )
- AD/DA卡 選配 (16 ~24 bits)
- SCAN 測(cè)試 選配 (max 512M/chain)
- ALPG 測(cè)試 選配供記憶體用
- STDF 工具支援
- 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
- CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
The Full Functions - Logic, LCD, LED, ADDA, Power, ALPG, SCAN,Match... etc.
