VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱(chēng): VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): 3380D
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
50/100 MHz測(cè)試頻率
50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
256數(shù)字信道管腳
并行測(cè)試可達(dá)256 sites同測(cè)數(shù)
32/64/128 M Pattern內(nèi)存
多樣彈性VI電源
彈性化硬件結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel Trim/Match功能
時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
AD/DA功能板卡 (16/24 bits) (可選配)
SCAN向量存儲(chǔ)深度(*高 2G bits/chain) (可選配)
ALPG測(cè)試選配供內(nèi)存IC用
STDF工具支持
測(cè)試程序/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
人性化Window 7操作系統(tǒng)
CRAFT C/C++ 程序語(yǔ)言
軟件接口與3380P/3360P相同
Direct mount治具
VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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50/100 MHz測(cè)試頻率
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50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
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256數(shù)字信道管腳
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并行測(cè)試可達(dá)256 sites同測(cè)數(shù)
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32/64/128 M Pattern內(nèi)存
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多樣彈性VI電源
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彈性化硬件結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
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Real parallel Trim/Match功能
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時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
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AD/DA功能板卡 (16/24 bits) (可選配)
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SCAN向量存儲(chǔ)深度(*高 2G bits/chain) (可選配)
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ALPG測(cè)試選配供內(nèi)存IC用
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STDF工具支持
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測(cè)試程序/pattern轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
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人性化Window 7操作系統(tǒng)
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CRAFT C/C++ 程序語(yǔ)言
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軟件接口與3380P/3360P相同
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Direct mount治具可相容于3360P probe-card
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Cable mount治具可相容于3360D與3360P
為因應(yīng)未來(lái)IC芯片腳位數(shù)更多、速率更高、整合功能更為復(fù)雜的發(fā)展驅(qū)勢(shì)，Chroma VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構(gòu)外，整合密度更高，且功能更強(qiáng)大。
3380D/3380P/3380機(jī)型為因應(yīng)高同測(cè)功能(High Parallel Test)，除內(nèi)建獨(dú)特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備any-pins-to-any-site高同測(cè)功能(256數(shù)字信道管可并行測(cè)256個(gè)測(cè)試芯片)，以因應(yīng)未來(lái)IC芯片更高的測(cè)試需求。
3380D/3380P/3380系列同時(shí)具備機(jī)框式直流電源供應(yīng)的小型化、低耗能化設(shè)計(jì)及非常具競(jìng)爭(zhēng)性的機(jī)臺(tái)性?xún)r(jià)比。
3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)非常適合應(yīng)用于IoT相關(guān)的芯片測(cè)試，尤其是一些具成本壓力的組件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380D/3380P/3380系列開(kāi)發(fā)至今，已在大中華地區(qū)被廣泛的采用。
滿足各種應(yīng)用范圍的芯片測(cè)試
如Logic, ADDA, RF(MCU), LED, Power, ALPG, Match等
