產(chǎn)品特色
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適用尺寸3.2mm x 2.5mm ~1.6mm x 0.8mm
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測試包裝速度600ppm~1500ppm
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層間短路判斷功能：
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面積比 (Area)
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放電二次微分偵測 (Laplacian)
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波峰降比 (ΔPeak Ratio)
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共振波面積比 (ΔResonant Area)
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具接觸檢查功能以延長治具使用期限
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可選擇搭配5組或2組測試站
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導引盤設(shè)計，無掉料疑慮
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類四線式量測設(shè)計的測試座
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具有各種**品獨立收集盒
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專用數(shù)據(jù)收集軟件，可實時監(jiān)控生產(chǎn)質(zhì)量
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切換式中/英/日文操作接口
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設(shè)備快速、穩(wěn)定、**
Chroma 1871是專門為芯片型電感所設(shè)計的自動化測試生產(chǎn)設(shè)備，特別針對層間短路測試而設(shè)計，滿足客戶端大量生產(chǎn)需求。
1871的測試功能為層間短路測試(IWT)，是把關(guān)芯片電感質(zhì)量的測試系統(tǒng)。此系統(tǒng)也承襲Chroma 19301A 繞線組件脈沖測試器所有的判斷功能，包含波形面積比(Area)、放電二次微分偵測(Laplacian)及新的測試判斷功能波峰降比(Δ Peak Ratio)、共振波面積比(Δ Resonant Area)。
為因應(yīng)現(xiàn)今電子產(chǎn)品，薄型化的電感器被大量使用，相對的也需大量生產(chǎn)，Chroma 1871*大生產(chǎn)效率為每分鐘1,500個，可滿足龐大產(chǎn)能需求。利用一次5組層間短路測試站同時測試來達到快速量產(chǎn)。亦可選擇僅搭配2組層間短路測試站給予不需量產(chǎn)的研發(fā)或品保等單位使用，以符合*佳的成本效益。
1871的供料模塊采用圓盤振動送料，可高速運送薄型化產(chǎn)品。圓盤振動送料可透過軌道設(shè)計、光纖偵測及氣孔吹氣來控制入料時產(chǎn)品的方向，相較于以往直線往復式機械送料更快速也省空間。
傳統(tǒng)往復式或炮塔式機械架構(gòu)在測試移載時，是以吸嘴吸附并移載產(chǎn)品，往往在移載時受移動慣性影響發(fā)生產(chǎn)品掉落或定位不準確無法量測。1871的測試區(qū)為封閉式導引盤架構(gòu)設(shè)計，高速移載時不會有產(chǎn)品掉落的疑慮，相較于傳統(tǒng)機械架構(gòu)則更快速、穩(wěn)定。
致茂電子專注于精密電子量測技術(shù)，自動測試設(shè)備的治具亦可量身訂做。1871使用的測試座為類四線式量測設(shè)計，測試座與產(chǎn)品的連接端采片式設(shè)計，比一般測試設(shè)備使用的探針更容易接觸且壽命長；量測時，片式設(shè)計也比探針穩(wěn)定、容易維護。
Chroma 1871具備專用軟件，可于生產(chǎn)過程中實時監(jiān)控測試狀態(tài)，收集儲存每單一產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)。實時監(jiān)控功能有利于降低生產(chǎn)風險，減少不必要的工時；數(shù)據(jù)收集功能則可協(xié)助研發(fā)及品保單位做產(chǎn)品分析或質(zhì)量控管，透過軟件接口的數(shù)據(jù)分析可提升質(zhì)量，進而增加利潤。
Applications
研發(fā)、品保批量驗證可選擇僅搭配2組層間短路測試站
研發(fā)及品保單位會進行產(chǎn)品特性檢測，以層間短路測試分析產(chǎn)品**狀態(tài)。因此檢測同時也需要收集測試數(shù)據(jù)，分析產(chǎn)品的數(shù)據(jù)及質(zhì)量。
產(chǎn)線高速測試生產(chǎn)搭配5組層間短路測試站
生產(chǎn)線可選擇搭配5組層間短路測試站，一次5站同時測試可縮短測試時間，以達到高速量產(chǎn)，測試同時亦可監(jiān)控測試狀態(tài)并收集數(shù)據(jù)。
