產(chǎn)品特色
Chroma 8020 配接器/充電器自動(dòng)測試系統(tǒng)是在生產(chǎn)線上測試配接器與充電器的*佳測試系統(tǒng)，8020可支援同時(shí)一次測試多顆待測物，大幅提升生產(chǎn)線產(chǎn)能，并且兼具Chroma 8000系統(tǒng)靈活的硬體架構(gòu)，可選擇多種硬體例如交流電源供應(yīng)器、電子負(fù)載、時(shí)序/雜訊分析儀、功率表等。
8020特別針對配接器與充電器特性，量身訂作并優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)測試項(xiàng)目，測試效能佳，符合大量生產(chǎn)要求，另外，軟體功能操作簡單，容易使用，符合生產(chǎn)線需求。
Chroma 8020 測試系統(tǒng)已針對業(yè)界的新測試需求，擴(kuò)充硬體與增加新的測試項(xiàng)目例如符合Energy Star要求的平均效率測試等。另針對業(yè)界未來的新測試需求，可彈性加入具有報(bào)表制作、統(tǒng)計(jì)分析和管理功能的Chroma 8020測試系統(tǒng)軟體，能夠產(chǎn)生各種測試報(bào)表，進(jìn)行系統(tǒng)管理，滿足現(xiàn)代化品保和生產(chǎn)線的需求。另外，此系統(tǒng)也能與制造資訊系統(tǒng)(Shop-Floor System)連線，以控制生產(chǎn)流程。
Chroma 8020 自動(dòng)測試系統(tǒng)運(yùn)行于Windows7/10以上的作業(yè)環(huán)境下，在簡單易學(xué)的Windows環(huán)境下為測試工程師提供專用的電源測試系統(tǒng)，并且方便使用Windows資源。
優(yōu)化的測試項(xiàng)目
Chroma 8020自動(dòng)測試系統(tǒng)配備了針對待測物(配接器/充電器)特性優(yōu)化后之標(biāo)準(zhǔn)測試項(xiàng)目，使用者只需在標(biāo)準(zhǔn)測試項(xiàng)目上定義測試條件和測試規(guī)格即可測試。優(yōu)化后的測試項(xiàng)目涵蓋了7類電源測試要求：輸出特性(Output Performance)檢測待測物的一般性能、輸入特性(Input Characteristic)檢測電源的輸入?yún)?shù)、穩(wěn)定度測試(Regulation Tests)檢測待測物在輸入電源和負(fù)載變化時(shí)的穩(wěn)定性、時(shí)序和瞬態(tài)(Timing & Transient)測量開機(jī)及關(guān)機(jī)時(shí)的瞬時(shí)狀態(tài)及各事件的時(shí)間、保護(hù)測試(Protection Tests)觸發(fā)電源的保護(hù)電路、特殊測試(Special Tests)和特殊功能(Special Features)提供了測試電源的特殊功能與方法。
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輸出特性測試
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直流輸出電壓
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直流輸出電流
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直流輸出功率
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峰對峰值噪聲
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有效值噪聲
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效率
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測試中調(diào)整
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過沖電壓
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輸入端特性測試
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涌浪電流測試
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輸入有效值電流
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輸入功率
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輸入功率因素
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輸入斷電測試
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輸入電壓緩升/降測試
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穩(wěn)定度測試
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電壓穩(wěn)定度
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負(fù)載穩(wěn)定度
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電壓/負(fù)載整合穩(wěn)定度
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動(dòng)態(tài)負(fù)載穩(wěn)定度
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同步動(dòng)態(tài)負(fù)載穩(wěn)定度
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時(shí)序以及瞬時(shí)特性測試
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開機(jī)時(shí)序
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上升時(shí)間
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下降時(shí)間
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關(guān)機(jī)時(shí)間
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保護(hù)特性測試
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短路測試
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過載保護(hù)
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過電壓保護(hù)
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特殊測試
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平均效率測試
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ID pin 訊號量測
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Quick Charge 2.0 驗(yàn)證測試
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Pump Express 充電器測試
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特殊功能
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TTL信號控制
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繼電器控制
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自動(dòng)測試系統(tǒng)軟件平臺(tái)
Chroma 8020自動(dòng)測試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)，特別針對生產(chǎn)在線使用所需，整個(gè)軟件功能操作簡單。Chroma 8020自動(dòng)測試系統(tǒng)的軟件運(yùn)行于Windows7/10以上的作業(yè)環(huán)境，為其提供了必要的外圍支持。
Chroma 8020自動(dòng)測試系統(tǒng)適合現(xiàn)代化的大規(guī)模量產(chǎn)生產(chǎn)線，可搭配支援Chroma Sajet制造資訊系統(tǒng)(Manufacturing Execution System, MES)進(jìn)行測試站別、人員、產(chǎn)品序號及測試程式的控制與管理，以及測試數(shù)據(jù)上傳中央伺服器功能，達(dá)到測試程式集中管理與數(shù)據(jù)資料搜集/報(bào)表分析等應(yīng)用，協(xié)助客戶完成智能工廠之目標(biāo)，提高產(chǎn)品品質(zhì)、效能，降低生產(chǎn)成本，創(chuàng)造企業(yè)利益*大化。另Chroma可提供客制化Shop-Floor控制系統(tǒng)服務(wù)，連結(jié)客戶廠內(nèi)既有MES，到目前為止已協(xié)助眾多海內(nèi)外***制造大廠完成MES系統(tǒng)整合之實(shí)績案例。
此外，因應(yīng)工業(yè)4.0全自動(dòng)智能產(chǎn)線趨勢，Chroma 8020自動(dòng)測試系統(tǒng)也完成系統(tǒng)硬體設(shè)備的狀態(tài)自檢功能，在每一次產(chǎn)品測試結(jié)束后便自動(dòng)進(jìn)行各硬體設(shè)備的狀態(tài)檢視，當(dāng)有測試設(shè)備或系統(tǒng)發(fā)生異常時(shí)，Chroma 8020系統(tǒng)可整合數(shù)位I/O裝置，輸出數(shù)位訊號通知管理中心，并在本地端電腦將「系統(tǒng)開始測試時(shí)間」、「系統(tǒng)結(jié)束測試時(shí)間」，以及發(fā)生異常錯(cuò)誤的訊息紀(jì)錄下來，方便使用者追朔參考、統(tǒng)計(jì)問題，以調(diào)整設(shè)備維護(hù)周期與調(diào)配。
手機(jī)充電器共模噪聲量測解決方案
研究發(fā)現(xiàn)智能型手機(jī)使用電容屏的多點(diǎn)觸控屏幕，在充電過程中來自AC-DC充電器所產(chǎn)生的共模噪聲電壓突波在觸控時(shí)進(jìn)入面板，嚴(yán)重影響觸控性能，常導(dǎo)致觸控讀取不準(zhǔn)確或造成假性觸控訊號，因此手機(jī)廠商合力制定IEC62684標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)范電池充電器的噪聲頻譜規(guī)格。
IEC62684 MoU標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范定義了行動(dòng)裝置充電器的共模噪聲的組成成分、規(guī)格限值與量測設(shè)置建議，致茂電子共模噪聲測試解決方案符合IEC62684規(guī)范要求且能快速穩(wěn)定地進(jìn)行充電器共模噪聲量測；Chroma 80611 時(shí)序/噪聲分析儀內(nèi)建4Mhz低通濾波器，可濾除<250ns高頻noise，符合可忽略<250ns高頻noise的量測要求，搭配Chroma 8020系統(tǒng)達(dá)到自動(dòng)化測試，滿足產(chǎn)線快速量產(chǎn)測試需求。
充電器共模噪聲基本測試架構(gòu)
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設(shè)備
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型號
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應(yīng)用
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輸入源
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Chroma 6500/61600/61500 AC Source
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IEC62684規(guī)范要求測試輸入電壓253Vac/50Hz
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高通濾波器
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Chroma設(shè)計(jì)
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濾除50Hz基頻漣波成分，且不會(huì)造成高頻noise衰減失真
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共模噪聲量測儀
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Chroma 80611時(shí)序/噪聲分析儀
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內(nèi)建4MHz LPF可濾除<250ns高頻noise，符合IEC62684規(guī)范要求
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與示波器量測比較
Chroma 80611 時(shí)序/噪聲分析儀采用模擬電路量測方式應(yīng)用于敏感的共模噪聲量測，可有效排除不穩(wěn)定、不連續(xù)等非預(yù)期的干擾突波，穩(wěn)定正確的量測共模噪聲；另外Chroma 80611的差模量測架構(gòu)有別于示波器共地架構(gòu)，可避免在multi-UUT測試時(shí)，待測物輸出共地造成噪聲特性互相影響問題。
示波器是以Digitizing方式量測，會(huì)量測所有screen上或cursor內(nèi)的max峰值，包括不連續(xù)/不穩(wěn)定的噪聲，及并非待測物本身特性產(chǎn)生的不想要量測到外來的干擾噪聲。
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功能規(guī)格
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Chroma 80611
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示波器
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Resolution
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400mV/15bit
2V/14bit
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8bit
內(nèi)存長度參數(shù)設(shè)定影響量測精準(zhǔn)度與測試時(shí)間
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一次測試多顆待測物測試速度
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可同時(shí)讀取所有通道量測數(shù)值
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只能單通道各別量測，逐一讀取量測數(shù)值
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通道數(shù)(臺(tái))
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Chroma 80611: 10CH
Chroma 80614: 4CH
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一般示波器(4CH)沒有external trig埠，量測時(shí)序時(shí)，必需犧牲一個(gè)信道接AC source transition訊號
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量測架構(gòu)
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差模量測：Multi-UUT同時(shí)測試時(shí)，可避免待測物noise特性互相耦和干擾
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共模量測：待測物輸出共地，可能造成輸出特性相互影響
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電源自動(dòng)測試系統(tǒng)軟件版本與Windows版本對照表
